S2 PUMA серии 2 со ступенью картографирования делает мониторинг качества в нескольких точках простой задачей. Он позволяет количественно определить элементный состав образца или даже толщину покрытия с высокой точностью и пространственным разрешением (до 1 мм). Линейный привод перемещения позиционирует образец точно и воспроизводимо. Фактическое положение может быть записано встроенной камерой HD. Этап картографирования расширяет область применения S2 PUMA Series 2 на полупроводники и покрытия, где требуется пространственное разрешение.
Имеются вкладыши для различных размеров образцов диаметром от 40 мм до 152 мм. По запросу возможна поставка пластин по индивидуальному заказу.
Основные преимущества
Измерение однородности материала и/или толщины покрытия
Малые и большие образцы - до 152 мм в диаметре
Коллиматорные маски для пятен размером от 1 до 34 мм
Высокоточный линейный столик для точного позиционирования
Встроенная HD-камера для автоматического сбора изображений