Axia ChemiSEM - микроскоп нового поколения, всегда готовый к работе даже для пользователей, мало знакомых с СЭМ. Прибор предлагает новую концепцию обработки и представления информации о составе образца в режиме реального времени, которая идеально настраивает и изображение СЭМ, и изображение ЭДС. Кроме того, новая технология обработки информации с адаптивным формированием импульсов позволяет получать достоверную информацию об элементном составе без искажений от наложения пиков и теней. Прибор обеспечивает размещения больших образцов весом до 10 кг и предоставляет доступ ко всей камере. Режим низкого вакуума позволяет работать с непроводящими образцами и использовать более высокие токи пучка для проведения элементного анализа. Прибор прост в обслуживании. Его конструкция обеспечивает длительное время безотказной работы, а замена катода и настройка колонны и оптики могут быть выполнены пользователем с любым уровнем опыта.


  • SKU: EL023613
  • Цена: 


Подробнее


Основные преимущества:

  • доступность даже при ограниченном бюджете;
  • ЭДС, полностью интегрированный в СЭМ и работающий в режиме реального времени;
  • возможность размещения больших образцов (высота до 128 мм) весом до 10 кг;
  • широкие аналитические и функциональные возможности уже в базовой комплектации;
  • удобство использования и доступ к максимальным характеристикам для исследователей любого уровня подготовки.
Тип микроскопаСканирующий
Область примененияМатериаловедение
Направление деятельности2D-анализ
Объекты интереса101 нм – 100 мкм
Характеристики электронной пушки
Тип катодаТермоэмиссионный (вольфрамовый)
Максимальное разрешение (SE), нм3
Диапазон ускоряющего напряжения, В200–30 000
Минимальная энергия приземления электронов, эВ20
Максимальный ток зонда, нА2 000
Предметный столик
Тип столика
Мультифункциональный на 18 держателей 12 ммНет
На 18 держателей 12 ммНет
На 7 держателей 12 ммНаличие
ПьезоНет
МеханическийНаличие
Максимальный вес образца, г10 000
Максимальный размер образца, Ø мм138
Ход по осям X и Y, мм120 × 120
Воспроизводимость по осям X и Y, мкм< 5,0
Ход по оси Z, мм55
Поворот, град.360
Наклон, град.-15 / +90
Ширина камеры, мм280
Количество портов для установки дополнительных детекторов, шт.)12
Детекторы
Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли (ETD)Наличие
ИК-камера для наблюдения положения образца в камереНаличие
Навигационная камера высокого разрешения Nav-Cam+™Наличие
Интегрированная система измерения тока лучаНет
Детектор вторичных электронов для низкого вакуума (LVD)Опция
Газовый детектор вторичных электронов для режима ESEMНет
T1 – нижний внутрилинзовый детекторНет
T2 – верхний внутрилинзовый детекторНет
T3 – внутриколонный детекторНет
Внутрилинзовый детектор Elstar SE/BSE (TLD-SE, TLD-BSE)Нет
Внутриколонный детектор Elstar SE/BSE (ICD)Нет
Внутриколонный детектор Elstar BSE (MD)Нет
Детектор направленных обратно-отраженных электронов (DBS)Наличие
Газовый аналитический детектор обратно-отраженных электронов DBS-GADНет
Аналитический ESEM-детектор DBS-ESEMНет
Детектор прошедших электронов STEM 3+Нет
Детектор для катодолюминесценции (CL)Опция
Детектор RamanОпция
EDSНаличие
EBSD/WDSОпция
Режимы вакуума:
Высокий вакуум, Па< 6,0 × 10 ⁻ ⁵
Низкий вакуум, Па150
Режим естественной среды (влажность 100 %), ПаНет
Безмасляная вакуумная системаНаличие
Дополнительное оборудование:
Пакет Wet-STEMНет
Криоочистка камерыНет
Плазменная очистка камерыНет
ЛитографияНет
Крио-СЭМНет
ГИСНет
МанипуляторНет
Зондовые станцииОпция
Панель управления микроскопомНаличие
Джойстик для управления столикомНет
Столик для охлажденияНет
Столик для нагреваОпция
Столик для растяжения/сжатияОпция
Вакуумный шлюзНет
Функция замедления пучкаОпция
Программное обеспечение:
MAPS™Наличие
MAPS™ + correlative workОпция
AutoTEMНет
Auto Slice&ViewНет
ColorSEM TechnologyНаличие
FLASHНет
SmartAlign TechnologyНет
Pattern generation softwareНет
AutoScript 4, Python-based Application Programming Interface (API)Опция
TopoMaps for image colorization, image analysis and 3D surface reconstructionОпция
Remote controlНет
Web-enabled data archiveНет
Тип
Электронные