Сочетание в Spectra 200 холодного источника сверхвысокой яркости X-CFEG, полностью переработанной инфраструктуры детектирования и обработки данных в СПЭМ и набора детекторов для ЭДС обеспечивает самую высокую пропускную способность для решения задач материаловедения. Объединяя возможности мощного и простого в использовании корректора зонда S-CORR, способного корректировать аберрации 5-го порядка, и X-CFEG, Spectra 200 обеспечивает высококонтрастную СПЭМ-визуализацию высокого разрешения для всех ускоряющих напряжений от 30 кВ до 200 кВ без использования монохроматора. ПО OptiSTEM+ обеспечивает полностью автоматическую коррекцию аберраций 1-го и 2-го порядка на исследуемом образце «в один клик», а ПО Velox, интегрированное с уникальной системой дифференциальной фазово-контрастной визуализации (iDPC), позволяет изучать магнитные и электрические свойства материалов, а также оптимизировать Z-контраст от водорода до урана на атомарном уровне.
Основные преимущества:
| Тип микроскопа | Просвечивающий |
| Область применения | Материаловедение |
| Направление деятельности | 3D-анализ |
| Объекты интереса | 0,1 Ȧ – 1 Ȧ |
| Характеристики электронной пушки | |
| Тип катода | |
| Катод типа Шоттки сверхвысокой яркости X-FEG с монохроматором UltiMono | Нет |
| Холодный автоэмиссионный катод X-CFEG | Наличие |
| Катод типа Шоттки | Нет |
| Катод типа Шоттки повышенной яркости X-FEG | Нет |
| Термоэмиссионный катод (W, LaB6) | Нет |
| Диапазон ускоряющего напряжения, кВ | 30–200 |
| Максимальное разрешение по линии, пм | Н/д |
| Максимальное разрешение по точкам, пм | Н/д |
| Максимальное разрешение в STEM, пм | ≤ 60 |
| Максимальное разрешение по энергиям, эВ | ≤ 0,4 |
| Информационный предел, пм | ≤ 110 |
| Гониометр | |
| Компьютеризованный 5-осевой сверхстабильный | Наличие |
| Компьютеризованный 5-осевой | Нет |
| Компьютеризованный 4-осевой | Нет |
| Пьезо | Наличие |
| Механический | Нет |
| Точность перемещения, пм | 20 |
| Наклон, град. | ±40 |
| Держатели | |
| Однонаклонный | Наличие |
| Двунаклонные | Опция |
| Аналитические | Опция |
| Томографические | Опция |
| С нагревом | Опция |
| STM/AFM | Опция |
| Image-корректор | Нет |
| Probe-корректор | Опция |
| Монохроматор | |
| Mono | Нет |
| UltiMono | Нет |
| Камера | Ceta 16M |
| Детекторы | |
| HAADF | Опция |
| BF/DF | Опция |
| STEM | Опция |
| Imaging filter | Опция |
| EELS | Опция |
| EMPAD | Опция |
| Gatan OneView/OneView IS | Опция |
| Super-X/Dual-X EDS | Наличие |
| EDS | Нет |
| Falcon 4 | Нет |
| Phase Plate | Нет |
| Дополнительное оборудование | |
| Линза Лоренца | Опция |
| Пакет 4х4 STEM | Опция |
| Cryobox autoloader | Нет |
| Программное обеспечение | |
| OptiSTEM+ | Опция |
| UltiMono+ | Нет |
| CEOS | Наличие |
| Tip Flash | Наличие |
| MAPS | Опция |
| TrueImage Atlas | Опция |
| MicroED | Опция |
| Remote access | Опция |
| CrystalPack | Опция |
| Low Dose Technology | Опция |
| Avizo | Опция |
| Amira | Нет |
| Inspect 3D | Опция |
| EPU | Нет |
| TEM Scripting | Опция |
| Align Genie | Опция |
| Epsilon | Опция |