Петрографический микроскоп BA310 POL обладает превосходными оптическими характеристиками и возможностями по расширению системы, и может использоваться для анализа тонких срезов в петрографии, минералогии, а также в промышленных и медицинских приложениях.
| Оптическая система | Color Corrected Infinitly Optical System (CCIS®) | |||||
| Окулярные трубки | Бинокулярный, с широким полем 30° | |||||
| Окуляры | С широким полем, с высоким расположением зрачка, N-WF10X/20X, диоптрическая коррекция для двух глаз, резиновые крышки, перекрестная окулярная сетка для одного глаза | |||||
| Промежуточная трубка | Вращаемый на 360 градусов анализатор с фокусируемыми линзами Бертрана | |||||
| Револьверная головка микроскопа | Вращающаяся обратная головка с четырьмя позициями, центрирование для одного положения | |||||
| Объективы | Без внутренних напряжение ECPlan | 4X | 10X | 20X (опция) | 40X | 60X |
| Цифровая апертура | 0.1 | 0.25 | 0.45 | 0.65 | 0.8 | |
| Рабочее расстояние, мм | 15.9 | 17.4 | 0.9 | 0.5 | 0.35 | |
| Предметный столик | Вращение на 360 градусов | |||||
| Конденсер | Ахроматический поворотно-откидной конденсер с цифровой апертурой 0.90/0.13 (без внутренних напряжений) с ирисовой диафрагмой | |||||
| Поляризатор | Вращающийся поляризатор, устанавливается на несущую конструкцию конденсера | |||||
| Система фокусировки | Система грубой фокусировки с возможностью настройки крутящего момента Система точной подстройки с минимальным шагом 2 микрона | |||||
| Система освещения | Система освещения Келера на основе кварцевой галогенной лампы 6В/30Вт с возможностью регулирования интенсивности | |||||
| Дополнительные принадлежности | Кварцевый клин, замедляющие фазовые пластины (на одну длину волны и на четверть длины волны), поляризующий механический предметный столик, адаптеры для C-крепления фотокамер (0.5X, 0.65X, 1X), фото-адаптер (фото-окуляр 2,5X и 4Х) | |||||