Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY серии XDV-μ предназначены для микроанализа материалов с высокой точностью. В зависимости от рентгеновской оптики могут быть проанализированы структуры размером 100 мкм или менее. Подходят только для плоских или почти плоских образцов. Все устройства серии оборудованы поликапиллярной оптикой, фокусирующей пучок рентгеновских лучей. При этом создаётся измерительное пятно диаметром от 10 до 60 мкм. Сфокусированное излучение высокой мощности позволяет сократить длительность измерений. Приборы соответствуют стандартам DIN ISO 3497 и ASTM B 568.
| Направление измерения | сверху вниз |
|---|---|
| Рентгеновская оптика | поликапиллярная |
| Видеомикроскоп | цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка,лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов |
| Фокусировка | ручная фокусировка и автофокусировка |
| Программное обеспечение | стандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER |
| Питание | адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт |
| Диапазон рабочих температур | от +10 до +40 °С |
| Класс защиты | IP40 |
| Температура хранения | от 0 до +50 °С |
