Промышленный томограф X5500

Основные преимущества:

• возможность одновременной установки двух рентгеновских трубок с различными параметрами (трубки с размером фокусного пятна от 2 мкм до 1000 мкм);
• специализированное программное обеспечение SubpiX фирмы NSI для улучшения разрешения более чем в два раза за счет смещения детектора в рамках одного пикселя при обработке изображения;
• специализированное программное обеспечение MosaiX фирмы NSI для сшивания нескольких изображений в одно при сканировании крупных объектов;
• специализированное программное обеспечение фирмы NSI для 4D-томографии изделий (динамическое 3D-сканирование с разбивкой по времени для отображения изменений в образце), которое позволяет визуализировать процессы сжатия, растяжения, температурных испытаний и движения изделия;
• возможность управлять манипулятором с помощью переносного джойстика, ПК или сенсорной панели, встроенной в корпус томографа.

Применение:

• измерение толщины стенок изделий с целью проведения метрологических исследований;
• исследование причин неисправностей и отказов готовых изделий;
• анализ пустот и включений в изделиях из металлов и сплавов, композитов, геологических объектов;
• контроль целостности и правильности сборки готового изделия на конечном этапе производства и при входном контроле;
• исследование изменений плотности материалов изделий (по поверхности, глубине и т. д. в металлах, стеклах и пр.) после различных процессов термообработки;
• сравнение 3D-сканирования изделия с исходной моделью, созданной в САПР (CAD);
• обратный инжиниринг для создания САПР-модели (CAD-модели) по результатам томографии реального образца;
• моделирование различных испытаний (механических, тепловых, аэродинамических и т. д.) с математической обработкой методом конечных элементов;
• контроль качества сварных и паяных соединений;
• исследование структур геологических образцов для контроля различных фаз, литотипов, коллекторов;
• исследование петрофизических свойств горных пород;
• исследование плотности, пористости, однородности, изотропности и других характеристик геологических образцов.