Das moderne FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen, einschließlich großflächiger Beobachtung, Analyse vor Ort, variablem Druck, hochauflösender Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und gleichzeitiger Erfassung mehrerer Signale.
SU7000 разработан для решения этих и других аспектов, предоставляя расширенную информацию для разнообразных потребностей в области электронной микроскопии.
Усовершенствованная система обнаружения SU7000 упрощает сбор структурной, топографической, композиционной, кристаллографической и других типов информации за счет минимизации изменений условий работы микроскопа, таких как рабочее расстояние или ускоряющее напряжение.